原文由 法无定法 在2010-02-02 21:19发表

1、那你的观点是ISO放大器是噪声的主要来源了？

2、动态范围的定义我已经说过多遍了，有很多种，目前讨论中使用的是Clark的定义，即：full-well capacity / best read noise（最大阱容/最小读出噪声）。

3、我的观点什么时候成了“高像素=高画质”的？我明明说的是认为高像素好是一种似是而非的错误观点。

如果你 ......

原文由 reversi 在2010-02-02 21:49发表
见过不要脸的，没见过你这么不要脸的！

http://www_sony_net/SonyInfo/technology/technology/theme/cmos_02.html
下面高亮标出的部分，主语是什么？
是你说的什么狗屁“[u]ADC模块[/u]”？还是[u]ADC电路[/u]？！

都被SONY官方资料直接打脸了，还不知羞耻呐？

原文由 法无定法 在2010-01-27 15:35发表
从上面的图和文字介绍来看，降噪是通过ADC前面和后面的CDS（相关双采样）电路来实现的。ADC电路本身并没有降噪功能。但Sony确实是将CDS与ADC封装在同一个集成电路中，所以也可以说[u]ADC模块[/u]具备降噪电路。

我说的ADC实际上是指单纯的A/D转换电路部分，如果要按封装模块来谈就无从划分具体电路的功能，也就无法从原理上来探讨。我认为这个证据不足以证明A/D电路本身具备降噪功能，所以，我依然坚持A/D转换无法降噪的观点。

原文由 法无定法 在2010-02-02 20:44发表

我已经说过了，从SONY网站上的ADC时序图看来的，莫非你以为不是？那你说说看，根据下面这张时序图，SONY的这个ADC是什么类型的？

原文由 法无定法 在2010-01-30 12:05发表
Clark先生是佳能的粉丝，但比国内的某些佳能粉丝要理性的多。在其文章的最后Clark先生指出：
。。。。。
无论是Clark先生的图还是给出的数据中，除了单位增益ISO之外，D3的数据都距理论曲线较远，而佳能的相机，特别是5D2，基本上都是在理论曲线上或者附近。这表明要么D3的性能很差，要么Clark先生的理论模型或者D3的数据有问题。但正如Clark正确指出的那样：是物理定律决定了大像素比高像素在高ISO或暗光方面（包括天文摄影在内）有更好的性能，因此只能认为Clark先生的理论模型或使用的数据有问题了

原文由 agoodwuj 在2010-02-01 08:44发表

LZ讨论到噪声，俺又突发奇想。

如果难够发明一种敷在CMOS感应器前面一层薄薄的能够被数字精密控制透光系数的“变透膜”（可变透射系数薄膜，厚度几十最多到几百um，其作用相当于电子系统中加了一个高质量的程控衰减器，质量高的原因是在数字控制与CMOS模拟输出之间是光路，理论上不会产生电子噪声），有的DC用这种方法“伪装变光圈”。如果这个“变透膜”能够在可见光范围内比较线性的调节8-10b的范围，COMS就可以根据最低照度设计固定的amp，最终获得的数字是ADC与“变透膜”控制码的叠加（后者极类似于BGA的增益码），这可能会给画质带来革命性的变化。

俺有个奇想，如果在按下快门前的很短时间内cmos芯片具有瞬间制冷功能（也正好也是PN结能干的事），这应该不需要太多的电能，却有可能显著降低电子噪声获得更高质量的信号。一些军用红外传感器如※※引导头就工作在深冷环境。

原文由 agoodwuj 在2010-02-02 04:29发表
1、“乘法运算就是放大”
数字化处理如乘法运算一般不称其为放大和缩小，这在原理上与模拟放大有着本质的区别。定点处理只要不截断就没有误差，只要位数足够并可以达到任意的精度。浮点运算的的精度尤其是64b双精度浮点也远远的满足一般工业需要。

2、DAC是电子学中比较经典的东西，如R-2R（T）DAC、权电阻DAC、PWMDAC...等；超高速DAC的技术含量还是比较高的（如16b/10Msps逐次比较ADC内的超高速DAC就很NB，建立时间只有几个ns，还要达到16b精度，这指标对于HiFi中的水平简直难以想象）。DAC俺用过不少，但在DSLR里不是主要的东西。

3、“SONY的列并行模数转换器是对CMOS传感器的每一列都设置了一个ADC，.....而这4000个ADC按照SONY的说法是同时也就是并行工作的”。
这个事实与俺“串并结合”的设想完全相同，也是比较优化的设计，工业数据采集系统中常见。这种方案不属于全并行，因为几百万个ADC放在那谁也受不了。

4、“双积分型A/D转换器是一种间接A/D转换器。...”
双积分ADC的特点是结构简单，精度也容易做得比较高（取决于计数位数，积分器和比较器）和有天生抗工频干扰的优点，缺点就是速度太慢（几乎难以做到ms级，比主流逐比型要慢上3个数量级，比流水线型要甚至要慢上5个量级--10万倍），应该不适于DSLR中，因为要为上述每一列的点逐一转换，每次的速度不应太慢（至少应该在10us量级，而这个速度积分型ADC根本做不到，除非分辨率很低但又失去了其优点）。
实用的积分ADC是四重积分型，一次正反向积分操作是专用来抵消积分器、比较器和模拟开关自身的失调（调零操作）。

5、“※※等高速飞行器如果是在大气层内飞行，......必须强制致冷。”
红外元件本身就对热噪声很敏感，所以※※即使外罩不发热敏感元件也应该降温。由于半导体器件反向饱和电流引起的噪声与绝对温度呈指数关系，所以只要温度低就肯定对信噪比有好处。比如室内进行高分辨率核能谱测量时甚至要液氮冷却半导体（高纯锗）探测器，俺专业有这方面的东西。
[agoodwuj 编辑于 2010-02-02 04:36]

原文由 agoodwuj 在2010-02-01 16:11发表
混合放大（这个叫法其实不准确，因为不存在“数字放大”的概念）。混合电路（如BGA/PGA、模拟开关等本身就是混合芯片）致命的缺点是容易受到数字噪声的影响。CPU的极高速度和几乎无限精度的运算使得现代技术有个特点，一旦完成了模数转换就再也无需回到任何模拟处理，除非有特定需要输出到模拟单元（如RGB显示的DAC）。

“串并结合”其实是具有阵列传感元件电子系统数据采集的常用方法。比如640x480阵列，每行640使用一个ADC（串行），共480个ADC（并行），通过640次并行转换后得出这帧的50w个数据，从fifo中依次读出被DPS进一步处理。这里面就有个通道设计问题，是每个传感器都有自己的放大器后再通过mux（640道太多可能要分成几级）还是先mux再公用一个高质量的BGA，这样做的前提还有每个cell的模拟信息在被依次量化前仍能很好的保持（S/H）。这里面mux虽是个祸害但又不得不用，受数字脉冲信号控制的mux的电荷馈漏可能会给微弱的原始信号带来灾难性的影响。

另外，LZ提到的采用积分（仪器中实用的是四重积分）ADC俺感到很奇怪，这种计数转换方式速度太慢（除非每个通道用一个），一般只用DVM仪表中。

俺有个奇想，如果在按下快门前的很短时间内cmos芯片具有瞬间制冷功能（也正好也是PN结能干的事），这应该不需要太多的电能，却有可能显著降低电子噪声获得更高质量的信号。一些军用红外传感器如※※引导头就工作在深冷环境。

原文由 法无定法 在2010-02-01 13:52发表
这几天一直在收集降噪方面的资料，准备讨论降噪的问题。......